Nazwa aparatu/producent

DEA 2970 / TA Instruments (USA)

Technika

Dynamiczna analiza właściwości dielektrycznych

Warunki pomiaru:

• temperatura -150 do 500 ºC,
• częstotliwość: 0,003 Hz-100 kHz,
• szybkość grzania/chłodzenia: 0,1-50/0,1-10 deg./min.,
• rodzaje próbek: folie, filmy, żele, pasty,
• atmosfera: otoczenia lub gaz obojętny,
• sensory: Parallel Plate Sensor, Ceramic Single Surface Sensor.

Możliwości badawcze:

• badanie właściwości dielektrycznych, tj. przenikalności dielektrycznej, współczynnika stratności, tg delta i przewodnictwa jonowego w funkcji czasu, temperatury oraz częstotliwości,
• wyznaczania temperatury i energii relaksacji molekularnych,
• monitorowanie sieciowania i polimeryzacji.

Osoba do kontaktu:

Dr inż. Wanda Sikorska, Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript.,  tel. 32 271 60 77 w. 228

Cena bazowa:

od 795 zł/próbka