Nazwa aparatu/producent
Mikroskop sił atomowych Dimension ICON /Bruker
Technika
Mikroskopia sił atomowych
Warunki pomiaru
• Obrazowanie w temperaturze pokojowej
• Możliwość obrazowania w atmosferze powietrza lub w cieczy (woda)
• Obrazowanie próbek o wymiarach: o średnicy do 21 cm i grubości do 1,5 cm, litych lub osadzonych na podłożu
• Możliwość zbierania danych z powierzchni do 90 μm w osi XY oraz do 10 μm w osi Z, przy rozdzielczości 5120x5120 pikseli.
Możliwości badawcze
• Charakterystyka powierzchni materiałów polimerowych i węglowych oraz struktur biologicznych, w tym:
• obrazowanie topografii powierzchni próbki przy użyciu trybu kontaktowego oraz przerywanego kontaktu (TappingMode)
• mapowanie powierzchni próbki względem właściwości nanomechanicznych (tryb PF-QNM) – adhezja, deformacja, Moduł Young’a, rozproszenie.
• mapowanie powierzchni próbki względem przewodności elektrycznej (tryb PF-TUNA) – tylko dla próbek przewodzących.
• mapowanie powierzchni próbki względem właściwości magnetycznych (tryb MFM).
• otrzymywanie map właściwości próbki 2D i 3D.
OSOBA DO KONTAKTU
Dr inż. Wanda Sikorska, Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript., tel. 32 271 60 77 w. 228
Ceny bazowe:
Próbki miękkie – pierwsza próbka z ustaleniem warunków pomiaru – od 1320 zł
Próbki miękkie – z ustalonymi warunkami pomiaru – od 795 zł
Próbki typu stałego (folie, materiały lite itp.) – od 640 zł
Próbki z roztworów przygotowane do pomiaru przez zleceniodawcę – od 640 zł
Preparatyka (ustalana indywidualnie dla próbki) – od 25 zł/próbka
Obrazowanie w trybie QNM (Adhezja, deformacja, rozproszenie energii) – cena na zapytanie
Obrazowanie w trybie MFM (próbki magnetyczne)- cena na zapytanie
Obrazowanie w trybie QNM wymagające kalibracji sondy (Moduł Younga, adhezja, deformacja, rozproszenie energii) - cena na zapytanie
Obrazowanie w trybie PF TUNE (przewodność elektryczna) – pierwsza próbka od 1060 zł
Pełny raport – analiza wyników - od 200 zł (zależy od ilości i charakteru próbek)
