Nazwa aparatu/producent
DEA 2970 / TA Instruments (USA)
Technika
Dynamiczna analiza właściwości dielektrycznych
Warunki pomiaru:
• temperatura -150 do 500 ºC,
• częstotliwość: 0,003 Hz-100 kHz,
• szybkość grzania/chłodzenia: 0,1-50/0,1-10 deg./min.,
• rodzaje próbek: folie, filmy, żele, pasty,
• atmosfera: otoczenia lub gaz obojętny,
• sensory: Parallel Plate Sensor, Ceramic Single Surface Sensor.
Możliwości badawcze:
• badanie właściwości dielektrycznych, tj. przenikalności dielektrycznej, współczynnika stratności, tg delta i przewodnictwa jonowego w funkcji czasu, temperatury oraz częstotliwości,
• wyznaczania temperatury i energii relaksacji molekularnych,
• monitorowanie sieciowania i polimeryzacji.
Osoba do kontaktu:
Dr inż. Wanda Sikorska, Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript., tel. 32 271 60 77 w. 228
Cena bazowa:
od 795 zł/próbka