Technika

Mikroskopia sił atomowych

Nazwa aparatu/producent

Mikroskop sił atomowych Dimension ICON  firmy Bruker

Warunki pomiaru

• obrazowanie w temperaturze pokojowej
• możliwość obrazowania w atmosferze powietrza lub w cieczy (woda)
• obrazowanie próbek o wymiarach: o średnicy do 21 cm i grubości do 1,5 cm, litych lub osadzonych na podłożu
• możliwość zbierania danych z powierzchni do 90 μm w osi XY oraz do 10 μm w osi Z, przy rozdzielczości 5120x5120 pikseli.

Możliwości badawcze

• obrazowanie topografii powierzchni próbki przy użyciu trybu kontaktowego oraz przerywanego kontaktu (TappingMode)
• mapowanie powierzchni próbki względem właściwości nanomechanicznych (tryb PF-QNM) – adhezja, deformacja, Moduł Young’a, rozproszenie.
• mapowanie powierzchni próbki względem przewodności elektrycznej (tryb PF-TUNA) – tylko dla próbek przewodzących.
• mapowanie powierzchni próbki względem właściwości magnetycznych (tryb MFM).
• otrzymywanie map właściwości próbki 2D i 3D.

OSOBA DO KONTAKTU:
Dr inż. Wanda Sikorska, Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript., tel. 32 271 60 77 w. 228

Ceny bazowe:

Próbki miękkie – pierwsza próbka z ustaleniem warunków pomiaru – od 1320 zł
Próbki miękkie – z ustalonymi warunkami pomiaru – od 795 zł
Próbki typu stałego (folie, materiały lite itp.) – od 640 zł
Próbki z roztworów przygotowane do pomiaru przez zleceniodawcę – od 640 zł
Preparatyka (ustalana indywidualnie dla próbki) – od 25 zł/próbka
Obrazowanie w trybie QNM (Adhezja, deformacja, rozproszenie energii) – cena na zapytanie
Obrazowanie w trybie MFM (próbki magnetyczne)- cena na zapytanie
Obrazowanie w trybie QNM wymagające kalibracji sondy (Moduł Younga, adhezja, deformacja, rozproszenie energii) - cena na zapytanie
Obrazowanie w trybie PF TUNE (przewodność elektryczna) – pierwsza próbka od 1060 zł
Pełny raport – analiza wyników - od 200 zł (zależy od ilości i charakteru próbek)