Wykonanie pomiarów kątów elipsometycznych Ψ i Δ, transmisji oraz temperatury zeszklenia, lub zimnej krystalizacji

Nazwa aparatu/producent

Elipsometr spektroskopowy SENTECH SE850E


Technika

Elipsometria spektroskopowa, elipsometria zmienno-temperaturowa cienkich warstw

Warunki pomiaru

 

o Zakres spektralny 240 - 2500 nm

o Pomiary w modzie odbiciowym

o Pomiary w modzie transmisyjnym

o Pomiary temperaturowe w zakresie od –150 ⁰C do + 450⁰C

o Możliwość pomiaru rezystancji elektrycznej, jednocześnie z pomiarami elipsometrycznymi

 

Możliwości badawcze


Pomiary bez konieczności modelowania:
-kąty elipsometyczne Ψ i Δ (możliwy pomiar wielokątowy w zakresie: 40⁰ - 70⁰)
-transmisja (możliwość wyboru mniejszego zakresu spektralnego, niż 240 – 2500 nm)
-pomiar temperatury zeszklenia, lub zimnej krystalizacji (warunki pomiaru dobierane indywidualnie do próbki)
Pomiary wymagające modelowania:
-pomiar współczynnika ekstynkcji, współczynnika załamania światła, stałych dielektrycznych, grubości próbek, udziału procentowego składników warstw typu „bulk”
-możliwość wykonania map powierzchniowych próbek (zmiany grubości, współczynników ekstynkcji, załamania, koncentracji składników w warstwach typu „bulk”) w skali makroskopowej, z wykorzystaniem mikrospotów (rozmiar plamki 200 μm)
-pomiar zmian temperaturowych grubości, współczynników optycznych i dielektrycznych
Wszystkie mierzone próbki muszą mieć postać cienkich warstw, o zakresie grubości do 2μm, muszą być osadzone na podłożach z krzemu polerowanego (o znanej grubości tlenku krzemu na powierzchni), na płytkach ze szkła mikroskopowego (matowych jednostronnie), lub na płytkach kwarcowych (przezroczystych).

Osoba do kontaktu:


Dr inż. Wanda Sikorska, Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript. ,  tel. 32 271 60 77 w. 228


Cena bazowa: 100 zł za podstawowy pomiar bez modelowania
250 zł za podstawowy pomiar wymagający modelowania
Cena pozostałych pomiarów uzgadniana indywidualnie

 

Czytany 3177 razy

Adres i kontakt

Nasz adres:
ul. M. Curie-Skłodowskiej 34
41-819 Zabrze
Telefon/Fax:
Tel. +48 32 271-60-77
Fax +48 32 271-29-69
 
Rzecznik prasowy:
Prof. dr hab. Grażyna Adamus, tel. +48 32 271-60-77 w. 226


 
Inspektor Ochrony Danych:
mgr Paulina Gąsior, tel. +48 32 271-60-77 w. 236
Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript.


W skrócie

Centrum powstało 1 stycznia 2007 r. w wyniku połączenia Centrum Chemii Polimerów PAN w Zabrzu i Zakładu Karbochemii PAN w Gliwicach – dwóch placówek Polskiej Akademii Nauk, które od lat prowadziły systematyczne prace nad wytwarzaniem i właściwościami materiałów makrocząsteczkowych - polimerowych i węglowych.

image      BIP CMPW PAN