HR Europejska Strategia dla Naukowców
logoUE
logoUE
logoUE

Uncategorised

Nazwa aparatu/producent

TGA/DSC 1 STARe system, Mettler Tolledo(USA)


Technika

Analiza termograwimetryczna


Warunki pomiaru:

• temperatura 25 do 900 ºC,
• szybkość grzania 2-20°C/min.,
• praca w powietrzu lub w azocie,
• masa próbki 10 -100 mg.

Możliwości badawcze

pomiar zmiany masy próbki w zależności od temperatury lub czasu z równoczesną analizą termiczną.Badanie stabilności termicznej próbek.

Osoba do kontaktu:

Dr inż. Wanda Sikorska, Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript., tel. 32 271 60 77 w. 228


Cena bazowa:

od 475 zł/próbka

Więcej

Technika

Mikroskopia sił atomowych


Nazwa aparatu/producent

Mikroskop sił atomowych Dimension ICON  firmy Bruker


Warunki pomiaru

• obrazowanie w temperaturze pokojowej
• możliwość obrazowania w atmosferze powietrza lub w cieczy (woda)
• obrazowanie próbek o wymiarach: o średnicy do 21 cm i grubości do 1,5 cm, litych lub osadzonych na podłożu
• możliwość zbierania danych z powierzchni do 90 μm w osi XY oraz do 10 μm w osi Z, przy rozdzielczości 5120x5120 pikseli.


Możliwości badawcze

• obrazowanie topografii powierzchni próbki przy użyciu trybu kontaktowego oraz przerywanego kontaktu (TappingMode)
• mapowanie powierzchni próbki względem właściwości nanomechanicznych (tryb PF-QNM) – adhezja, deformacja, Moduł Young’a, rozproszenie.
• mapowanie powierzchni próbki względem przewodności elektrycznej (tryb PF-TUNA) – tylko dla próbek przewodzących.
• mapowanie powierzchni próbki względem właściwości magnetycznych (tryb MFM).
• otrzymywanie map właściwości próbki 2D i 3D.

 

OSOBA DO KONTAKTU:
Dr inż. Wanda Sikorska, Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript., tel. 32 271 60 77 w. 228

 

Ceny bazowe:

Próbki miękkie – pierwsza próbka z ustaleniem warunków pomiaru – od 1320 zł
Próbki miękkie – z ustalonymi warunkami pomiaru – od 795 zł
Próbki typu stałego (folie, materiały lite itp.) – od 640 zł
Próbki z roztworów przygotowane do pomiaru przez zleceniodawcę – od 640 zł
Preparatyka (ustalana indywidualnie dla próbki) – od 25 zł/próbka
Obrazowanie w trybie QNM (Adhezja, deformacja, rozproszenie energii) – cena na zapytanie
Obrazowanie w trybie MFM (próbki magnetyczne)- cena na zapytanie
Obrazowanie w trybie QNM wymagające kalibracji sondy (Moduł Younga, adhezja, deformacja, rozproszenie energii) - cena na zapytanie
Obrazowanie w trybie PF TUNE (przewodność elektryczna) – pierwsza próbka od 1060 zł
Pełny raport – analiza wyników - od 200 zł (zależy od ilości i charakteru próbek)


Więcej

Nazwa aparatu/producent

Mikroskop Sił Atomowych MultiMode/NanoScopeIIId, firmy Veeco (aktualnie BRUKER)


Warunki pomiaru

• obrazowanie w temperaturze pokojowej oraz podwyższonej (do 60°C)
• możliwość obrazowania w atmosferze powietrza lub w cieczy (woda)
• obrazowanie próbek o wymiarach: o średnicy do 1,5 cm i grubości do 0,5 cm, litych lub osadzonych na podłożu
• możliwość zbierania danych z powierzchni od 500 nm do 14 µm w osi XY oraz do 2,8 µm w osi Z, przy rozdzielczości do 512x512 pikseli.


Możliwości badawcze

• obrazowanie topografii powierzchni próbki przy użyciu trybu kontaktowego oraz przerywanego kontaktu (TappingMode).


Osoba do kontaktu:

Dr inż. Wanda Sikorska, Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript., tel. 32 271 60 77 w. 228


Ceny bazowe:

Próbki miękkie – pierwsza próbka z ustaleniem warunków pomiaru – od 1320 zł
Próbki miękkie – z ustalonymi warunkami pomiaru – od 795 zł
Próbki typu stałego (folie, materiały lite itp.) – od 640 zł
Próbki z roztworów przygotowane do pomiaru przez zleceniodawcę – od 640 zł
Preparatyka (ustalana indywidualnie dla próbki) – od 25 zł/próbka
Pełny raport – analiza wyników - od 200 zł (zależy od ilości i charakteru próbek)


Więcej

Technika

Transmisyjna mikroskopia elektronowa z trybem cryo-TEM
oraz techniką tomografii elektronowej


Nazwa aparatu/producent

Mikroskop TEM TecnaiG2 F20 X-TWIN/FEI Company (aktualnieThermoFisher Scientific),


Warunki pomiaru

• napięcie 80-200 kV z trybem „LowDose”,
• wysoka próżnia,
• temperatura pokojowa (TEM) lub temperatura ciekłego azotu (cryo-TEM),
• próbki proszkowe lub ultracienkie skrawki (< 500 nm)
• próbki w postaci zawiesin w roztworach (przed witryfikacją), wielkość badanych obiektów <500 nm.
• w pełni automatyczna akwizycja serii pochyłów dla tomografii elektronowej.


Możliwości badawcze

• obrazowanie struktury materiałów, w tym polimerów i próbek biologicznych (białka, wirusy)
• obrazowanie struktury materiałów czułych na wiązkę elektronową (próbek w zawiesinie) w stanie naturalnym bez utrwalania i kontrastowania – cryo-TEM
• rejestracja obrazów BF/DF TEM, HRTEM, cryo-TEM, lub dyfrakcji elektronowej (SAD)
• rekonstrukcja obrazów 3D na podstawie serii  obrazów 2D zebranych dla danej próbki pod różnymi kątami.


Osoba do kontaktu:

Dr inż. Wanda Sikorska, Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript., tel. 32 271 60 77 w. 228

Ceny bazowe:

TEM (do 20 zdjęć/próbkę) – od 550 zł
Cryo-TEM (do 20 zdjęć/próbkę) – od 1320 zł
Tomografia TEM - cena na zapytanie

Więcej

Technika

Środowiskowa skaningowa mikroskopia elektronowa (ESEM)
z trybem wet-STEM do badań próbek mokrych lub w zawiesinie


Nazwa aparatu/producent

Mikroskop SEM/Quanta/FEG 250/FEI (aktualnie ThermoFisherScientific)
z przystawką wet-STEM/FEI (aktualnie ThermoFisherScientific)


Warunki pomiaru

• napięcie 0.5 – 30 kV
• tryby próżniowe:
   - wysoka próżnia - HiVac
   - niska próżnia  - LoVac (10 - 130 Pa, para wodna)
   - tryb środowiskowy ESEM (10 – 4000 Pa, para wodna)
• temperatura pokojowa (HiVac, LoVac) lub w zakresie -30¸ +30 oC (stolik Peltiera) (ESEM)
• rozdzielczość < 10 nm
• próbki w postaci ciał stałych (próbki objętościowe, warstwy, proszki) o średnicy i wysokości nie większej niż 5 cm
• próbki mokre (średnica <3 mm) lub w zawiesinie
• EDS - Próg detekcji >0,1% (wag.) zależny od pierwiastka; typowa rozdzielczość przestrzenna> 1μm.


Możliwości badawcze

• informacje o (mikro)strukturze powierzchni w szerokim zakresie powiększeń,
• analiza morfologii i struktury układów warstwowych, przekrojów poprzecznych, przełomów  i proszków;
• określanie wielkości obiektów, w tym nanocząstek,
• Wet-STEM/SEM - obrazowanie próbek mokrych lub w zawiesinie; wykonywanie eksperymentów dynamicznych

Osoba do kontaktu:

Dr inż. Wanda Sikorska, Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript., tel. 32 271 60 77 w. 228


Ceny bazowe:

SEM – od 265 zł (do 10 zdjęć/próbkę)
STEM – cena na zapytanie
ESEM – WetSTEM – od 550 zł (do 10 zdjęć/próbkę)

Więcej

Technika


Energodyspersyjna spektroskopia promieniowania rentgenowskiego


Nazwa aparatu/producent


Mikroskop SEM/Quanta/FEG 250/FEI (aktualnie ThermoFisherScientific)
z detektorem EDS/Apollo 10/EDAX Ametek


Warunki pomiaru


o    Napięcie 0.5 – 30 kV
o    Tryby próżniowe:
    - wysoka próżnia - HiVac
    -  niska próżnia  - LoVac
o    Rozdzielczość obrazu < 10 nm
o    Próbki w postaci ciał stałych (próbki objętościowe, warstwy, proszki) o średnicy i wysokości nie większej niż 5 cm
o    Próg detekcji EDS >0,1% (wag.) zależny od pierwiastka; typowa rozdzielczość przestrzenna>1μm.

Możliwości badawcze

 analiza ilościowa składu pierwiastkowego (Z>3) w mikroobszarach i jakościowa w nanoobszarach.


Osoba do kontaktu:


Dr inż. Wanda Sikorska, Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript. ,  tel. 32 271 60 77 w. 219


Ceny bazowe:


Analiza EDS w punkcie lub obszarze (5 widm + zdjecie SEM): HiVac – 200 zł; LoVac – 250 zł
Analiza EDS liniowa (3 linie + zdjęcie SEM): HiVac – 220 zł; LoVac – 250 zł
Mapy rozkładu pierwiastków EDS (1 mapa): HiVac – 220 zł; LoVac – 250 zł



Więcej

Adres i kontakt

Nasz adres:
ul. M. Curie-Skłodowskiej 34
41-819 Zabrze
Telefon/Fax:
Tel. +48 32 271-60-77
Fax +48 32 271-29-69
 
Rzecznik prasowy:
Prof. dr hab. Grażyna Adamus, tel. +48 32 271-60-77 w. 226


 
Inspektor Ochrony Danych:
mgr Paulina Gąsior, tel. +48 32 271-60-77 w. 236
Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript.


W skrócie

Centrum powstało 1 stycznia 2007 r. w wyniku połączenia Centrum Chemii Polimerów PAN w Zabrzu i Zakładu Karbochemii PAN w Gliwicach – dwóch placówek Polskiej Akademii Nauk, które od lat prowadziły systematyczne prace nad wytwarzaniem i właściwościami materiałów makrocząsteczkowych - polimerowych i węglowych.

image      BIP CMPW PAN