Uncategorised
Nazwa aparatu/producent
Spektrofluorymetr Hitachi FL-2500
Technika
Spektroskopia fluorescencyjna
Warunki pomiaru
· zakres rejestrowanego widma 220-800nm
· szerokość szczeliny 2,5 – 20 nm
· dokładność długości fali ± 3,0 nm
· szybkość skanowania długości fali 15, 60, 300, 1500, 3000 nm / min
· aparat wyposażony w przystawkę dla kuwet o długości drogi optycznej do 10 mm oraz przystawkę do pomiarów warstw.
Możliwości badawcze
Zestaw pomiarowy umożliwia rejestrację widm ekscytacyjnych i emisyjnych dla roztworów oraz warstw.
Osoba do kontaktu:
Dr inż. Wanda Sikorska, Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript. , tel. 32 271 60 77 w. 228
Cena bazowa: 250 zł/próbka
Nazwa aparatu/producent
Elipsometr spektroskopowy SENTECH SE850E
Technika
Elipsometria spektroskopowa, elipsometria zmienno-temperaturowa cienkich warstw
Warunki pomiaru
o Zakres spektralny 240 - 2500 nm
o Pomiary w modzie odbiciowym
o Pomiary w modzie transmisyjnym
o Pomiary temperaturowe w zakresie od –150 ⁰C do + 450⁰C
o Możliwość pomiaru rezystancji elektrycznej, jednocześnie z pomiarami elipsometrycznymi
Możliwości badawcze
Pomiary bez konieczności modelowania:
-kąty elipsometyczne Ψ i Δ (możliwy pomiar wielokątowy w zakresie: 40⁰ - 70⁰)
-transmisja (możliwość wyboru mniejszego zakresu spektralnego, niż 240 – 2500 nm)
-pomiar temperatury zeszklenia, lub zimnej krystalizacji (warunki pomiaru dobierane indywidualnie do próbki)
Pomiary wymagające modelowania:
-pomiar współczynnika ekstynkcji, współczynnika załamania światła, stałych dielektrycznych, grubości próbek, udziału procentowego składników warstw typu „bulk”
-możliwość wykonania map powierzchniowych próbek (zmiany grubości, współczynników ekstynkcji, załamania, koncentracji składników w warstwach typu „bulk”) w skali makroskopowej, z wykorzystaniem mikrospotów (rozmiar plamki 200 μm)
-pomiar zmian temperaturowych grubości, współczynników optycznych i dielektrycznych
Wszystkie mierzone próbki muszą mieć postać cienkich warstw, o zakresie grubości do 2μm, muszą być osadzone na podłożach z krzemu polerowanego (o znanej grubości tlenku krzemu na powierzchni), na płytkach ze szkła mikroskopowego (matowych jednostronnie), lub na płytkach kwarcowych (przezroczystych).
Osoba do kontaktu:
Dr inż. Wanda Sikorska, Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript. , tel. 32 271 60 77 w. 228
Cena bazowa: 100 zł za podstawowy pomiar bez modelowania
250 zł za podstawowy pomiar wymagający modelowania
Cena pozostałych pomiarów uzgadniana indywidualnie
Nazwa aparatu/producent
Analizator wielkości cząstek metodą spektroskopii tłumienia akustycznego
(APS-100) /MatecApplied Sciences
Technika
Pomiar rozkładu wielkości cząstek metodą spektroskopii tłumienia akustycznego
Warunki pomiaru
Temperatura 25 – 30 oC
Próbki stałe w zawiesinach wodnych lub organicznych o stężeniu od 0.1 – 50% obj.
Zawiesina mieszana podczas pomiaru, co zapobiega sedymentacji i agregacji.
Możliwości badawcze
Określanie rozkładu wielkości cząstekstałych w zakresie od 10 nm do 100 µm, niezależnie od ich potencjału Zeta, ładunku elektrycznego oraz wartości pH.
Osoba do kontaktu:
Dr inż. Wanda Sikorska, Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript. , tel. 32 271 60 77 w. 228
Osoba wykonująca badania:
Mgr inż. Karolina Olszowska, Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript., tel. 32 271 60 77 w. 260
Nazwa aparatu/producent
Chromatograf gazowy NEXIS GC-2030 SHIMADZU
Technika
Analiza metodą chromatografii gazowej (GC)
Warunki pomiaru:
• Chromatograf wyposażony w dwie linie analityczne
• Apartat wyposażony w kolumnę kapilarną DB5 i kapilarną kolumnę polarną
• Injektor manualny termostatowany od 50 – 300 °C
• Detektor płomieniowo-jonizacyjny (FID) oraz detektor uniwersalny z wyładowaniem barierowym w plazmie helowej (BID)
• Możliwość przeprowadzenia analizy próbek lotnych; analizy ilościowej, w szerokim zakresie stężeń składników
• Chromatograf zaopatrzony w oprogramowanie pozwalające na obróbkę wyników i tworzenie raportów
Możliwości badawcze
Chromatograf zaopatrzony jest w detektor FID oraz BID odpowiedni dla próbek lotnych (węglowodorów i substancji lotnych zawierających węgiel, wodór i tlen oraz inne pierwiastki)
Osoba do kontaktu:
Dr inż. Wanda Sikorska, Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript., tel. 32 271 60 77 w. 228
Cena bazowa:
od 155 zł/próbka
Nazwa aparatu/producent
Chromatograf gazowy NEXIS GC-2030 SHIMADZU
Technika
Analiza metodą chromatografii gazowej (GC)
Warunki pomiaru
• Chromatograf wyposażony w dwie linie analityczne
• Apartat wyposażony w kolumnę kapilarną DB5 i kapilarną kolumnę polarną
• Injektor manualny termostatowany od 50 – 300 °C
• Detektor płomieniowo-jonizacyjny (FID) oraz detektor uniwersalny z wyładowaniem barierowym w plazmie helowej (BID)
• Możliwość przeprowadzenia analizy próbek lotnych; analizy ilościowej, w szerokim zakresie stężeń składników
• Chromatograf zaopatrzony w oprogramowanie pozwalające na obróbkę wyników i tworzenie raportów
Możliwości badawcze
Chromatograf zaopatrzony jest w detektor FID oraz BID odpowiedni dla próbek lotnych (węglowodorów i substancji lotnych zawierających węgiel, wodór i tlen oraz inne pierwiastki)
Osoba do kontaktu:
Dr inż. Wanda Sikorska, Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript., tel. 32 271 60 77 w. 228
Cena bazowa: od 155 zł/próbka
Oprogramowanie użytkowe dopuszczone do instalacji na stacjach roboczych Centrum:
- Mozilla Firefox, Google Chrome, Opera
- Mozilla Thunderbird
- Adobe Reader (wymagane ‘odhaczenie’ add-on: programu AVG podczas instalacji Adobe Reader)
- doPDF – drukarka PDF
- Skype (uwaga na znaczne obciążenie systemu przy słabszych komputerach!)
- Gadu Gadu (uwaga na znaczne obciążenie systemu przy słabszych komputerach!)
- Kadu – zamiennik GG
- VLC Media Player
- GIMP
- Dropbox, Dysk Google, Synology Cloud Station
- Oprogramowanie dodatkowe dostarczane przez producentów stacji roboczych, np. Nero Burning Rom
- Specjalistyczne programowanie chemiczne: MestreNova, ChemDraw, ChemOffice, ISIS Draw, ChemSketch, ChemSep, WinDIG, Grapher zgodnie z licencjami
- Windows Commander/Total Commander pod warunkiem posiadania ważnej licencji
- Oprogramowanie specjalistyczne dostarczane przez producentów aparatury niezbędne do pracy z aparaturą oraz obróbki danych
- Niewymienione powyżej licencjonowanie oprogramowanie będące własnością Centrum, np.: Microsoft Office, Adobe Acrobat, Adobe Photoshop, Corel Draw, Origin, Top Spin, Kinetica, Statistica, MatLab, EndNote
- Wszelkie biblioteki niezbędne do pracy powyższego oprogramowania: Java RE, .NET
Więcej...
Adres i kontakt
ul. M. Curie-Skłodowskiej 34
41-819 Zabrze
Telefon/Fax:
Tel. +48 32 271-60-77
Fax +48 32 271-29-69
Prof. dr hab. Grażyna Adamus, tel. +48 32 271-60-77 w. 226
mgr Paulina Gąsior, tel. +48 32 271-60-77 w. 236
Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie obsługi JavaScript.
W skrócie
Centrum powstało 1 stycznia 2007 r. w wyniku połączenia Centrum Chemii Polimerów PAN w Zabrzu i Zakładu Karbochemii PAN w Gliwicach – dwóch placówek Polskiej Akademii Nauk, które od lat prowadziły systematyczne prace nad wytwarzaniem i właściwościami materiałów makrocząsteczkowych - polimerowych i węglowych.
